단일 이벤트 장애(Single Event Upset, 이하 SEU)는 ‘비트 상태(bit status)’의 의도치 않은 변경이며, 디지털 시스템에서 고에너지 중성자 또는 알파 입자가 무작위로 충돌하여, 말 그대로 메모리의 비트(논리 구성 요소) 상태가 뒤집힐 때 발생한다. 이러한 고에너지 입자는 지구 또는 우주선(cosmic ray) 같은 외계에서 비롯될 수 있으며, SEU는 디지털 시스템의 비정상적인 작동 또는 전체 시스템 장애로 이어질 수 있다.

SSD 내에서 이러한 오류나 장애를 해결하면 시스템 전체를 재부팅할 필요 없이 복구할 수 있으므로, 안정적인 운영과 중단 없는 가동이 가능하다.

글로벌 SSD 및 메모리 솔루션 스마트 모듈러 테크놀로지스(이하 스마트)가 플래시 메모리 기반 시스템에서 SEU의 부정적 영향을 완화해주는 ‘ME2’ 및 ‘MP3000 NVMe’ SSD 제품군을 발표했다.

이 제품군은 SEU 완화 기술로 연간 장애율을 백만 유닛(Mu)당 17.5만에서 10 미만으로 줄이며, 중단 없는 가동시간을 보장해 수리 비용을 절감한다. 

SEU 완화 기술 내부 SRAM을 위해 단순히 ECC에만 의존하는솔루션보다 우수하다. 호스트 시스템 재부팅 없이도 SSD 자체에서 정상적으로 재부팅하는 기능을 갖추고 있어서, 장애의 추가적인 10%에 해당하는 SSD 내의 다른 구성 요소의 비트 뒤집힘이 발생할 가능성도 SSD에서 처리할 수 있다. 가동시간을 극대화해야 하는 애플리케이션용으로 설계되고 SEU 완화 기능을 갖춘 이러한 부팅 드라이브는 60GB에서 1.92TB의 스토리지 용량에 상업용 등급(작동 온도: 0~70°C) 및 산업용 등급(작동 온도: -40~85°C)으로 출시되었다. M.2 2280은 'SafeDATA' 전력 손실 데이터 보호 기능도 지원한다.

‘ME2 SATA M.2’ 및 ‘mSATA 드라이브’는 60GB ~ 1.92TB의 스토리지를 제공하며, 상업용 등급(작동 온도: 0~70°C) 및 산업용 등급(작동 온도: -40~85°C)으로 출시되었다. M.2 2280은 ‘세이프데이터(SafeDATA)’ 전력 손실 데이터 보호 기능도 지원한다.

‘MP3000 NVMe SSD’는 M.2 2280, 22110 및 E1.S 폼 팩터에서 80GB에서 1.92TB의 스토리지로 구성되며, 상업용 및 산업용 온도 등급과 ‘세이프데이터’ 기능도 지원한다.

스마트의 사티야 아이어(Satya Iyer) 특수 메모리 담당 부사장은 “표준 SATA 및 PCIe NVMe 부팅 드라이브는 단일 이벤트 장애로 인한 소프트 오류에서 복구해 연간 고장률을 99.7%까지 낮출 수 있다. 이 제품은 원격지나 수리가 어려운 곳에 있는 네트워크 및 통신 시스템이나 연중무휴 가동시간이 필요한 시스템에 적합하다.”고 말했다.